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量測基本理論(Basic_Theory_of_

放大字體  縮小字體 發布日期:2021-10-25 02:02:52    作者:微生一檸    瀏覽次數:65
導讀

Part 2----------- 精密量測器具簡介4.產品公差要求及適用量測儀器產品類型光縴治具CONNECTERMPE公差要求±0.005±0.02±0.05±0.05~0.10產品特性1.透明2.體積小1.端面尺寸2.形位公差3.被測要素 少,公差小.1.位置公

Part 2----------- 精密量測器具簡介

4.產品公差要求及適用量測儀器

產品類型

光縴

治具

CONNECTER

MPE

公差要求

±0.005

±0.02

±0.05

±0.05~0.10

產品特性

1.透明
2.體積小

1.端面尺寸
2.形位公差
3.被測要素
少,公差小.

1.位置公差
2.多槽,多PIN
3.體積小
4.被測要素小

1.多曲面
2.3D尺寸
3.尺寸要素小
4.基準要素復雜

適用設備

OGP
萬能測長儀

CMM
高度規

OGP

OGP
CMM

產品類型

NBE

PCE(DELL)

NFE

外購件

公差要求

±0.10

±0.13

±0.25

>±0.25

產品特性

1.易變形
2.多曲面
3.基準面變異
4.體積適中

1.易變形
2.曲面
3.拔模斜度

1.體積大
2.五金件
3.樣品外觀要求高

1.螺絲規格判定
2.螺頭深度

適用設備

CMM
MICRO-VU

CMM
MICRO-VU

CMM
高度規

投影機
塞規,環規

產品類型

光縴

治具

CONNECTER

MPE

公差要求

±0.005

±0.02

±0.05

±0.05~0.10

產品特性

1.透明
2.體積小

1.端面尺寸
2.形位公差
3.被測要素
少,公差小.

1.位置公差
2.多槽,多PIN
3.體積小
4.被測要素小

1.多曲面
2.3D尺寸
3.尺寸要素小
4.基準要素復雜

適用設備

ogp
萬能測長儀

CMM
高度規

OGP

OGP
CMM

產品類型

NBE

PCE(DELL)

NFE

外購件

公差要求

±0.10

±0.13

±0.25

>±0.25

產品特性

1.易變形
2.多曲面
3.基準面變異
4.體積適中

1.易變形
2.曲面
3.拔模斜度

1.體積大
2.五金件
3.樣品外觀要求高

1.螺絲規格判定
2.螺頭深度

適用設備

CMM
MICRO-VU

CMM
MICRO-VU

CMM
高度規

投影機
塞規,環規

 
(文/微生一檸)
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